芯片高低溫測試儀

芯片高低溫測試儀是一款專門供應(yīng)于工業(yè)產(chǎn)品、工業(yè)材料、產(chǎn)業(yè)界成品或者半成品做設(shè)定的高低溫溫度范圍檢測試樣的技術(shù)性能指標(biāo)。適用于各行各業(yè)的產(chǎn)品做模擬環(huán)境不同溫度變化的質(zhì)量評定，如高溫檢測、低溫檢測、高低溫交變檢測、高低溫恒定檢測、高低溫循環(huán)檢測等評估樣品的綜合性能指標(biāo)。

具有完美的造型設(shè)計，霧面線條處理及圓弧造型；進(jìn)口中英文可切換的觸摸屏控制器，可達(dá)120個程序，1200段右自由設(shè)定，循環(huán)次數(shù)可達(dá)999次，功能強(qiáng)大，操作簡單。利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)烈送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，使室內(nèi)溫度分布均勻，波動度極小，所有技術(shù)指標(biāo)均有滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求；安全保護(hù)裝置完備，當(dāng)設(shè)備異常時會主動報警提示并提供故障排除方法。

芯片高低溫測試儀技術(shù)參數(shù)：

型號：LQ-GD-100/LQ-GD-120/LQ-GD-150/LQ-GD-225/LQ-GD-408

控制系統(tǒng)：平衡調(diào)溫控件系統(tǒng)

溫度范圍：0攝氏度/-20攝氏度/-40攝氏度/-60攝氏度/-60攝氏度～150攝氏度

溫度波動度：+/- 0.5攝氏度

溫度均勻度：+/- 0.5攝氏度

內(nèi)箱尺寸（W*H*D）mm：500*500*400/500*500*400/500*600*500/500*750*600/600*850*800

內(nèi)腔材質(zhì)：SUS304不銹鋼：耐熱性、耐蝕性、低溫強(qiáng)度和機(jī)械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，無熱處理硬化現(xiàn)象

外殼材質(zhì)：不銹鋼霧面拉絲線條處理

保溫材質(zhì)：聚氨酯泡沫(高效節(jié)能，填充后無縫隙，固化后粘結(jié)強(qiáng)固)

控制系統(tǒng)：采用韓國*中英文觸摸式LCD控制器(可編程/可連電腦導(dǎo)出數(shù)據(jù)）

冷凍系統(tǒng)：采用法國*“泰康”系列壓縮機(jī)作為主要制冷系統(tǒng)的核心配置

保護(hù)裝置：超溫、缺水、缺相保護(hù)、無熔絲開關(guān)、壓縮過載過熱保護(hù)、故障報警系統(tǒng)

電源：單相三線 220V+/-10% 50Hz/60Hz或三相五線 380V+/-10% 50Hz/60Hz